Jeol JCM-7000 är ett kompakt svepelektronmikroskop i bordsmodell som enkelt kan hantera avancerade analytiska tillämpningar. Instrumentet kompletterar optisk mikroskopi genom sitt utomordentliga skärpedjup och höga förstoring. Användbara egenskaper är bl.a. 3D-avbildning i realtid, lättanvända metrologiverktyg och som tillval helintegrerad EDS för grundämnesanalys.
